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線體勘驗儀表在鑄造產(chǎn)業(yè)的定型失誤區(qū)

來源: http://yuanweishulai.cn  類別:實(shí)用技術(shù)  更新時間:2015-03-23  閱讀

  誤區(qū)一:不結(jié)合工藝實(shí)際廣泛采用同位素分析儀雖然射線檢測儀表在冶金自動化生產(chǎn)過程中得到了廣泛應(yīng)用,但是在實(shí)際生產(chǎn)過程中,由于受到安裝環(huán)境以及樣本的影響,在某些地方并不能發(fā)揮射線儀表的優(yōu)勢。寶鋼的實(shí)踐證明,同位素分析儀在以下幾個區(qū)域的選用是不成功的:比如水處理場TN公司的濃度分析儀,主要用于泥漿濃度的測量,由于泥漿在管道里分布的不均勻性導(dǎo)致測量的誤差大,無法正常使用,使得濃度分析儀沒有使用價值。比如高爐的焦炭中子水分計,一般中子水分計的測量準(zhǔn)確度是1%,測量范圍是1% ̄100%,但是實(shí)際使用中焦炭的水分含量為百分之零點(diǎn)幾,因此測量的意義并不大。

  誤區(qū)二:涂層厚度測量樣板由設(shè)備供應(yīng)商來提供涂層測量儀廣泛應(yīng)用于熱鍍鋅、電鍍鋅及電鍍錫機(jī)組鍍層厚度的測量,是進(jìn)行產(chǎn)品質(zhì)量控制,減少消耗的重要監(jiān)測設(shè)備。通常技術(shù)附件中規(guī)定,由設(shè)備供應(yīng)商提供準(zhǔn)確度標(biāo)定用樣板,但是實(shí)際使用中發(fā)現(xiàn),涂層儀在靜態(tài)樣板標(biāo)定中準(zhǔn)確度正常,但是實(shí)際使用中與化學(xué)法測量相差較大,主要原因是由于樣板的材質(zhì)和實(shí)際生產(chǎn)中材質(zhì)差別大,鋅層的合金成分影響比較大(比如鋅鐵合金)。在生產(chǎn)或者試生產(chǎn)過程中比較科學(xué)的方法是,在用戶的生產(chǎn)線上采集比較均勻的樣板,然后送到國內(nèi)或者國外的權(quán)威機(jī)構(gòu)進(jìn)行真實(shí)數(shù)據(jù)的測量,以得到標(biāo)準(zhǔn)的校正樣板,這樣就保持了實(shí)際生產(chǎn)和離線測量狀態(tài)的一致性。

  誤區(qū)三:在現(xiàn)場使用壓縮機(jī)進(jìn)行X光源的冷卻目前由于X光源的廣泛使用,冷卻裝置是X光源必須使用的輔助設(shè)施。設(shè)備供應(yīng)商通常會采用壓縮機(jī)進(jìn)行冷卻,但是由于壓縮機(jī)作為通用設(shè)備使用在環(huán)境惡劣(高溫,高濕)的現(xiàn)場,導(dǎo)致故障率非常高,處理壓縮機(jī)故障時間長,直接威脅到X光源的壽命并影響到非計劃停機(jī)時間。實(shí)際上在大型的冶金企業(yè)中,現(xiàn)場都存在重要的能介資源冷凍水,如果用冷凍水作為二次水冷卻X光源內(nèi)部循環(huán)的一次水,不僅減少了壓縮機(jī)部件,降低了成本,而且在安裝備用循環(huán)泵的前提下,完全可以做到終身免維護(hù)。該項技術(shù)還可以推廣到其他需要冷卻的儀表上(比如激光測速儀)。

  誤區(qū)四:同位素放射源可以使用幾百年目前,同位素測厚儀基本上采用半衰期400多年Am241作為放射源。理論上,同位素儀表的重要部件―――Am241可以使用上百年,但是實(shí)際情況并非如此。目前,工業(yè)現(xiàn)場主要使用的是封閉型放射源,就是把放射性物質(zhì)裝在不銹鋼殼里,封焊制成后放在鉛罐里。由于這種不銹鋼焊接外殼在高溫高濕的現(xiàn)場環(huán)境下,焊接部分時間長了會出現(xiàn)老化裂開,導(dǎo)致鉛罐快門打開時,放射性粉末物質(zhì)泄露,造成污染,因此放射源在使用15年之后需要進(jìn)行更換倒裝而不是長期使用。

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